Baixe Introdução à Espectroscopia ao Raios-X e outras Manuais, Projetos, Pesquisas em PDF para Física, somente na Docsity! INTRODUÇÃO A ESPECTROSCOPI A NO RAIO-X DISCENTE: Résia Santos DOCENTE: Marco Trindade SUMÁRIO 1. INTRODUÇÃO 2. DIFRAÇÃO DE R-X 3. EPECTROS DE DIFRAÇÃO CARACTERISTICOS 4. CONCLUSÃO 5. ASPECTOS HISTÓRICOS 6. AGRADECIMENTO 7. REFERÊNCIAS DIFRAÇÃO DE RX • O termo estrutura cristalina envolve o arranjo dos átomos, enquanto que o termo microestrutura engloba desde os constituintes estruturais tais como composição presente, fases, quantidades, inclusões até contornos de grãos de cristais, trincas, vazios, macelas, etc. • Basicamente , enquanto a estrutura cristalina se refere a repetição da organização atômica específica , arranjo e disposição ordenada e periódica dos átomos , a estrutura micro cristalina leva em conta as características físicas e químicas dos materiais, inclusive imperfeições. DIFRAÇÃO DE RX • Portanto, é esta estrutura regular e ordenada dos sólidos cristalinos que permitem uma interação com o RAIO-X • Porém uma limitação da técnica é justamente a necessidade destes padrões de periodicidade, este arranjo ordenado, cristalino e regular da estrutura em análise. • Em outras palavras: Líquidos, gases e superfícies amorfas não podem ser analisadas por esta técnica de RX • Esta repetição periódica é devido á coordenação atômica no interior da estrutura cristalino ou microcristalino do material em análise , na busca de minimizar a energia volumétrica contida no cristal. Ou seja a busca de uma formação de equilíbrio estável e de menor gasto de energia. • Desta forma sólidos cristalinos tem uma estrutura totalmente diferente de líquidos sólidos amorfos e polímeros • Uma das técnicas de análise estrutural e microestrutural mais empregada para identificar os diferentes materiais é a Difração de raios – X DIFRAÇÃO DE RX DIFRAÇÃO DE RX • Quando a radiação de raios X interage com o material, alguns elétrons podem ser ionizados, o que cria íons positivos e elétrons livres. A presença de íons positivos no material não é diretamente relevante para a difração, mas a criação de elétrons livres pode interferir no processo. • Os elétrons livres adicionais podem dispersar a radiação incidente de maneira aleatória, o que pode afetar a qualidade do padrão de difração capturado pelo detector. Se a dispersão de elétrons livres for significativa, pode ocorrer um espalhamento adicional dos raios X incidentes, levando a um padrão de difração menos nítido ou mais difícil de interpretar. Espectros de Difração Característicos • Os padrões de difração observados quando os raios-X incidem em um cristal fornecem informações valiosas sobre a estrutura cristalina da substância em questão. A análise desses padrões pode revelar detalhes sobre como os átomos estão dispostos no cristal e a distância entre eles. Isso é crucial para identificar a substância. • Cada substância tem uma estrutura cristalina única, o que significa que a disposição espacial dos átomos em um cristal específico é característica daquela substância. Ao examinar os padrões de difração produzidos pela interação dos raios-X com essa estrutura cristalina, os cientistas podem fazer correspondências entre os padrões observados e estruturas cristalinas conhecidas. • Isso é feito por meio da comparação dos padrões experimentais com bancos de dados que contêm informações sobre estruturas cristalinas de várias substâncias conhecidas. Se os padrões de difração correspondem a um padrão já identificado e catalogado, os cientistas podem determinar a substância em questão. • Em resumo, os padrões de difração ajudam a identificar a substância cristalina analisada ao comparar os padrões experimentais com informações previamente conhecidas sobre a estrutura cristalina de diferentes substâncias. Isso permite a identificação precisa da substância com base na sua estrutura atômica específica. RESUMO: • O objetivo é utilizar a radiação de raios X de uma maneira que interaja de forma seletiva com a estrutura do material, produzindo padrões de difração claros e precisos que contenham informações sobre a disposição atômica. Isso significa ajustar a intensidade da radiação de forma apropriada para evitar processos como a ionização excessiva ou a excitação de elétrons que possam perturbar a difração ou criar sinais de fundo indesejados nos padrões de difração.
