METODOLOGIE ANALITICHE
In questo capitolo verranno descritte le tecniche analitiche e strumentali utilizzate. Tra le tecniche
adoperate per lo studio dei materiali solidi cristallini, la più usata è la diffrazione a raggi X.
In particolare, in questo lavoro, è stata utilizzata la diffrattometria da polveri e le analisi sono state
svolte presso il Dipartimento di Ingegneria e Geologia dell’Università “G. D’Annunzio”, Chieti.
3.1 LA DIFFRAZIONE
La diffrazione è un fenomeno di interferenza, che si verifica quando un’ onda incontra nel suo
percorso un ostacolo o un foro, il quale può essere circolare o rettangolare. Qualitativamente le
onde si propagano anche in direzioni diverse da quelle di incidenza e hanno origine differenze di
percorso tra onde che si sovrappongono in un dato punto; possono quindi avvenire fenomeni di
interferenza con conseguente ridistribuzione dell’energia nei punti dello spazio, da cui risultano le
cosiddette figure di diffrazione.
Ora supponiamo di far passare un fascio di luce attraverso una fenditura di ampiezza variabile, e
che questa arrivi su uno schermo posto ad una distanza ipotetica dove si formano frange scure
alternate a frange luminose. Dopo che la luce ha attraversato una qualsiasi fenditura, secondo il
principio di Huygens, ogni punto della stessa si comporta come se fosse a sua volta una sorgente di
onde circolari, e queste onde interagiscono tra loro mediante sovrapposizione. La diffrazione infatti
avviene proprio a causa dell’interferenza tra queste onde prodotte e può essere di tue tipi,
costruttiva o distruttiva, a seconda che le onde si intensifichino o si indeboliscano, fino anche ad
annullarsi, a vicenda.
Per spiegare questo fenomeno, facciamo riferimento a due onde di uguale lunghezza d’onda e di
uguale ampiezza; quando interagiscono in modo tale che la cresta della prima onda coincida con la
cresta della seconda, le due si sommano, e producono un’interferenza costruttiva con formazione di
un'unica onda con ampiezza doppia. Nel caso in cui le onde interagiscono in modo opposto, e cioè
la cresta della prima onda coincide con il ventre della seconda, o viceversa, allora si formerà
un’interferenza distruttiva e lo spettro sarà buio.
3.2 LA DIFFRATTOMETRIA
La diffrattometria si basa sul fenomeno della diffrazione, un complesso fenomeno di diffusione e
interferenza originato dall’interazione dei raggi X con un reticolo cristallino. Il processo di
diffusione è caratterizzato dall’interazione di un’onda elettromagnetica con la materia, e avviene
