MICROSCOPIA DE FORÇA ATÔMICA, Notas de estudo de Cultura

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 AFM “atomic force microscopy ”.  Descoberta em 1986 por Binning, Quate e Gerber.  O AFM usa interação entre as forças sonda- amostra para traçar o mapa da superfície.  Seu princípio fundamental é a medida das deflexões de um suporte em cuja extremidade livre está montada a sonda.

Cantilever de Si com ponta integrada.

Imagem de quatro cantilevers em forma de V acoplados em um bloco

As pontas piramidais ocas vistas por cima

As deflexões do cantilever são usualmente medidas de três maneiras: (a)detecção pela corrente de tunelamento, (b)detecção por capacitância e (c)detecção óptica.

 Pode ser operado em ar ou em meio líquido;

 Permite estudar não apenas materiais condutores, mas também todo tipo de material isolante;

 A AFM oferece a possibilidade de obter imagens de resolução atômica com um mínimo de preparação prévia das amostras.

 Medições nanometricas em 3D e propriedades dos materiais;

 Observações ampliadas em ar atmosférico;

 Observação direta em não-condutores;

 Medições confiáveis;

 Localização física das medições na amostra.

 O atômica microscópio (AFM) de (^) ofereceforça ampliação e observações em3D de superfícies de amostras compequena ponta de prova. É o auxílio de uma possível obter medições em superfícies planas de sólidos efilmes em ambientes ar atmosféricoordem de ounanometros. líquido naA ponta também de as provapropriedades fornece elétricas da amostra, assim comoestrutura ade (^) separaçãoimagem dade camadasamostra e a dureza da

 O AFM usa interação entre as forças sonda-amostra para traçar o mapa da superfície.

 Seu princípio fundamental é a medida das deflexões de um suporte em cuja extremidade livre está montada a sonda.

 Referem-se à distância mantida entre a sonda (ponteira) e a amostra, no momento da varredura, e às formas de movimentar a ponteira sobre a superfície a ser estudada.

 São classificados em: contato, não- contato e contato intermitente.